Устройство и принцип действия электронного микроскопа

Методы просвечивающей электронной микроскопиипомогают объяснить,почему это происходит, как этому способствует структурно-фазовое состояние материала.Трансмиссионная электронная микроскопиядает возможность исследовать внутреннюю структуру изучаемых металлов и сплавов, в частностивыявлять:тип и параметры кристаллической решетки матрицы и фаз;ориентационные соотношения между матрицей ифазой;кристаллографическую ориентацию отдельных зерен исубзерен;углы разориентировки между зернами исубзернами;плоскости залегания дефектов кристаллического строения;исследоватьраспределение и плотность дислокаций в материалах изделий;исследовать строение границ зерен;исследовать влияние технологических факторов (ковки, прокатки, сварки,шлифовки и т.д.)на структуру конструкционных материалов;исследовать процессы фазовых и структурных превращений в сплавах.Исследователи металлов и сплавов в своей практической деятельности постоянно сталкиваются со всеми перечисленными вышезадачами. Важнейшей из них является задача выбора материала конструкций с необходимыми механическими свойствами, такими чтобы конечная конструкция смогла стабильно работать в условиях дальнейшей ее эксплуатации. Эту задачу можно решить только совместными усилиями кристаллографов, металловедов и технологов. Успех ее решения зависит от таких факторов как:правильный выбор металла основы с нужным типом кристаллической решетки (ГЦК,ОЦК, ГПУ);легирование и термопластическая обработка металла с целью формирования в нем заданной;разработка технологических процессов изготовления конструкции.Задача по созданию сплава, обладающего заданными механическими свойствами, подразумевает создание материала с требуемой внутренней структурой, поскольку практически все механические свойства являются структурно-чувствительными. Все без исключения изменения свойств в глубинных или четырех поверхностных слоях металлов и сплавов - это отклик на изменение их внутреннего строения на макро-, микро- и субмикроскопическом уровнях.Одним из наиболее эффективных приложений мощных современных и быстро развивающихся методов растровой и просвечивающей электронной микроскопииявляется исследования микротопографии поверхности и внутренней структуры конструкционных материалов.Физическая и органическая химияВ области физической химии приложения электронной микроскопии многочисленны и разнообразны.Применение электронных микроскопов к изучению коллоидных растворов дает возможность установить правильную картину строения коллоидов. В электронном микроскопе непосредственно видны частицы высокодисперсных золей золота, серебра и других веществ. При исследовании золей каучука наблюдались длинные нити с расположенными на них узелками. Длинные молекулы многих высокомолекулярных органических веществ образуют сильно разветвленные сетки со спутанными петлями. Это подтверждает предположение о нитеобразном строении молекул многих высокомолекулярных соединений. При помощи электронных микроскопов удалось увидеть молекулы белковых веществ, например гемоцианина, которые оказались шарообразной формы и т.д.ЗаключениеБлагодаря своей высокой разрешающей способности, электронные микроскопы нашли очень широкое применение в медицине, микробиологии, вирусологии и фармакологии. Они позволили получать треххмерные изображения микроскопических структур, изучать воздействие токсинов на организмы, контролировать качество лекарственных препаратов. Электронные микроскопы также незаменимы в промышленной сфере. Их применяют для получения 2-хмерных и 3-хмерных микрохарактеристик образцов, в микротехнологиях: литографии, травлении, легировании, полировке и др.В то же время следует отметить, что методы электронной микроскопии достаточно сложны и трудоемки, и чтобы овладеть искусством электронной микроскопии, требуется значительное время и средства на покупку дорогостоящего оборудования, поэтому в мире не так много групп, занимающихся электронной микроскопией на высоком уровне.Использованная литератураГоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. Растроваяэлектронная микроскопия и рентгеновский анализ. Перевод с английского языка.Москва, "Мир", 1984.Основы аналитической электронной микроскопии / Под ред. Грена Дж.Дж.,Гольдштейна Дж.И., Джоя Д.К., Ромига А.Д. Перевод с английского языка. Москва,"Металлургия", 1990.Груздев А.Д. Применение стереологических методов в цитологии. Новосибирск, "Наука", 1974.Томас Г., Горинж М. Дж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов: Пер. с англ./Под ред. Б.К. Вайнштейна – М: Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1983 – 320с.Вознесенский, Э. Ф. Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учебное пособие / Э. Ф. Вознесенский, Ф. С. Шарифуллин, И. Ш. Абдуллин. — Казань : КНИТУ, 2014. — 184 с.Панова, Т.В. Современные методы исследования вещества: электронная и оптическая микроскопия : / Т.В. Панова ; Министерство образования и науки РФ, Омский государственный университет им. Ф. М. Достоевского. – Омск : Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского, 2016. – 80 с.Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учебное пособие/ Д. Брандон, У. Каплан ; пер.: С. Л. Баженов, О. В. Егорова. - Москва: ТЕХНОСФЕРА, 2004. - 384 с.Практическая электронная растровая микроскопия. Под ред. Дж. Гоулдстейна и Х. Яковица. М., 1978.Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Э. М., Мир, 1984.Физические принципы электронной микроскопииЭгертон Р.Ф.Техносфера, Москва, 2010 г. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И., Филатов А. М., Ульяненков А. Г.Техносфера, Москва, 2009 г.