Понятие о метрологии как о науке

Оптические методы измерения имеют следующие основные преимущества[8].все данные в плоскости изображения могут быть получены одновременно;измеряемая поверхность не будет повреждена, поскольку во время измерения отсутствует контакт с измеряемой поверхностью;скорость измерения относительно высокая;можно измерить поверхность почти всех материалов.Оптическое измерение - важный компонент бесконтактного измерения.Бесконтактное оптическое измерение делится на активное и пассивное. В активных измерительных системах есть специальные инструменты для создания источников света или звука для измерений, а в пассивных измерениях их нет. Наиболее часто используемые активные измерения – это лазерная триангуляция. Поскольку процесс измерения выполняется оптическими методами, к поверхности объекта измерения предъявляются определенные требования. Отражающие или темные объекты не подходят для оптических измерений, или при обнаружении таких объектов требуются более сложные оптические методы или требуются определенные обработки для обеспечения измерения. В пассивных методах измерения трехмерная информация об объекте получается путем непосредственного использования изображения, созданного естественным светом, вместо излучения управляемого светового луча на измеряемый объект. Точность данных глубины, полученных этим методом, невысока, и получаются только нечеткие представления об относительном расстоянии до сцены. Активные измерения основаны на методе передачи энергии. На сцену и использовании структурной информации, предоставляемой специальным источником света, для получения информации о глубине. Активные методы измерения обладают высокой точностью измерения дальности, хорошими характеристиками защиты от помех, хорошими характеристиками в реальном времени и широким спектром приложений, и их относительно легко напрямую получать информацию о трехмерном контуре измеряемого объекта по сравнению с пассивными методами измерения. ЗаключениеВ заключении важно отметить, что в условиях современных организацийстандартизация и метрология активно применяются. Они развиваются уже многие поколения во многих сферах деятельности человека. Именно благодаря системе стандартизации и метрологиипроисходит модернизация уже существующих и открытие новых способов билдинга, осуществляется контроль средств информатизации, создаются высокоэффективные материалы и технологии, что безусловно будет способствовать развитию организаций, работающих в этом направлении в целом с увеличением их доходов.В данной работе достигнута основная цель – описанытеоретические основы метрологии.В данном реферате были решены следующие задачи:описаны основные понятия, связанные с метрологии;представлены примеры использования метрологии.Также в процессе написания реферата были использованы современные и классические источники литературы и глобальной сети Internet.Список использованной литературыОрлов Ю.А. и др. Метрология. Стандартизация. Сертификация. Технические измерения. Лабораторный практикум / Ю.А. Орлов, М.П. Ромодановская, Д.Ю. Орлов, В.Н. Романов. — Владимир: Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых, 2016. — 103 с.Мазалова Н.Ф. Метрология и стандартизация. Практикум. — Керчь: Керченский государственный морской технологический университет, 2020. — 33 с.Грязин Д.Г. Основы метрологии и метрологического обеспечения.– СПб: Университет ИТМО, 2019. – 72 с.Мосталыгин, А. Г. Основы стандартизации, подтверждения соответствия (сертификации) и метрологии: учебное пособие / А. Г. Мосталыгин, Л. В. Мосталыгина, В. Е. Овсянников. – Курган : Изд-во Курганского гос. ун-та, 2019. – 96 с. Gyllenbok Jan. Encyclopaedia of Historical Metrology, Weights, and Measures: Volume 1. Birkhäuser, 2018. — 691 p.Зайцев С.А. Контрольно-измерительные приборы и инструменты. Учебник для студ. учреждений сред. проф. образования — 8-е изд., стер. — М.: Академия, 2016. — 464 с.Калькулятор [Электронный ресурс] – Режим доступа: URL:https://www.calc.ru/millimetr-v-piksel.html, свободный. – Загл. с экрана.Du S., Xi L. High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications. Springer, 2019. — 338 p.